產(chǎn)品中心
Product Center
熱門搜索：
GCDLSM-800端子電流耐久性測(cè)試系統(tǒng)
GCDLSM-800端子插拔循環(huán)壽命試驗(yàn)機(jī)
GCDLSM-800端子高低溫循環(huán)測(cè)試儀
GCDLSM-800端子電流循環(huán)壽命試驗(yàn)系統(tǒng)
GCDLSM-800端子電流循環(huán)壽命試驗(yàn)機(jī)
GCSTD-D高低頻固體介電常數(shù)測(cè)試儀
NLD-AI電線電纜漏電起痕試驗(yàn)儀
GDW-250小型高低溫試驗(yàn)臺(tái)
PMQS-I新款國(guó)產(chǎn)泡沫起升儀PMQS
GCDDJ-100Kv電壓擊穿試驗(yàn)儀
PMQS-IPMQS泡沫起升儀
GEST-121薄膜體積電阻率測(cè)試儀
GEST-122多功能炭素粉末石墨電阻率測(cè)量?jī)x
GCSTD-FI液體高低介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀
GEST-122多功能炭素電極電阻率測(cè)試儀
FTDZ-I粉末電阻率測(cè)試儀
當(dāng)前位置：首頁(yè)
產(chǎn)品中心粉末綜合測(cè)試儀
product
產(chǎn)品分類
靜態(tài)顆粒圖像分析儀 產(chǎn)品特點(diǎn): *出色的外觀設(shè)計(jì)，符合人機(jī)工程學(xué)的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì) *機(jī)身一體化的設(shè)計(jì)，使產(chǎn)品長(zhǎng)期保持優(yōu)異穩(wěn)定性能 *優(yōu)質(zhì)的3WLED照明，穩(wěn)定和超常使用壽命 *無(wú)限遠(yuǎn)色差校正光學(xué)系統(tǒng)，普通光學(xué)校正系統(tǒng)，可滿足不同用戶的需求
更新時(shí)間：2026-01-10
產(chǎn)品型號(hào)：ZKFT-1600
瀏覽量：1633
顆粒圖像分析儀 產(chǎn)品特點(diǎn): *出色的外觀設(shè)計(jì)，符合人機(jī)工程學(xué)的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì) *機(jī)身一體化的設(shè)計(jì)，使產(chǎn)品長(zhǎng)期保持優(yōu)異穩(wěn)定性能 *優(yōu)質(zhì)的3WLED照明，穩(wěn)定和超常使用壽命 *無(wú)限遠(yuǎn)色差校正光學(xué)系統(tǒng)，普通光學(xué)校正系統(tǒng)，可滿足不同用戶的需求
更新時(shí)間：2026-01-10產(chǎn)品型號(hào)：ZKFT-1600瀏覽量：1775
粉末陶粒砂測(cè)試儀 單位堆積體積的支撐劑質(zhì)量稱為支撐劑體積密度；單位堆積體積的陶粒質(zhì)量稱為陶粒的體積密度， 是包含陶粒本身、開(kāi)口氣孔和閉口氣孔三部分的平均密度。1.漏斗上口到桶狀容器底板儀器臺(tái)面總 高304.8mm；支撐劑下落點(diǎn)起到一儀器臺(tái)面的距離215.9mm；2.漏斗高76.2mm；漏斗口高12.7mm； 桶狀容器高76.2mm；
更新時(shí)間：2026-01-10產(chǎn)品型號(hào)：ZKMD-1350瀏覽量：1975
陶粒砂體積密度測(cè)試儀 單位堆積體積的支撐劑質(zhì)量稱為支撐劑體積密度；單位堆積體積的陶粒質(zhì)量稱為陶粒的體積密度， 是包含陶粒本身、開(kāi)口氣孔和閉口氣孔三部分的平均密度。1.漏斗上口到桶狀容器底板儀器臺(tái)面總 高304.8mm；支撐劑下落點(diǎn)起到一儀器臺(tái)面的距離215.9mm；2.漏斗高76.2mm；漏斗口高12.7mm； 桶狀容器高76.2mm；
更新時(shí)間：2026-01-10產(chǎn)品型號(hào)：ZKMD-1350瀏覽量：1883
粉末陶粒砂測(cè)定儀 單位堆積體積的支撐劑質(zhì)量稱為支撐劑體積密度；單位堆積體積的陶粒質(zhì)量稱為陶粒的體積密度， 是包含陶粒本身、開(kāi)口氣孔和閉口氣孔三部分的平均密度。1.漏斗上口到桶狀容器底板儀器臺(tái)面總 高304.8mm；支撐劑下落點(diǎn)起到一儀器臺(tái)面的距離215.9mm；2.漏斗高76.2mm；漏斗口高12.7mm； 桶狀容器高76.2mm；
更新時(shí)間：2026-01-10產(chǎn)品型號(hào)：ZKMD-1350瀏覽量：2024